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用于评估硅光子器件的测试芯片
用于评估硅光子器件的测试芯片

硅光子发展种的重要工具

用于评估硅光子器件的测试芯片

特点

概述

siliconPhotonicsdevices02.jpg
概述

规格

芯片尺寸 20 mm x 8 mm
损耗测量
图案
宽= 440 nm/ 480 nm
长=42734, 31334, 22735, 14134, 6907 μm
Y 支路 宽= 440 nm 2/4/8 支路
MMI 支路 宽=440nm 2/4/8 支路